O plano de 2 polegadas C lustrou Sapphire Wafers Crystal Substrates
Detalhes do produto:
Lugar de origem: | China |
Marca: | BonTek |
Certificação: | ISO:9001 |
Número do modelo: | Safira (Al2O3) |
Condições de Pagamento e Envio:
Quantidade de ordem mínima: | 25 peças |
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Preço: | Negociável |
Detalhes da embalagem: | Gaveta, frasco, pacote do filme |
Tempo de entrega: | 1-4 semanas |
Termos de pagamento: | T/T |
Habilidade da fonte: | 10000 partes/mês |
Informação detalhada |
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Material: | Sapphire Crystal Wafer | Tipo de corte: | C-linha central [0001], R-linha central [1-102], Um-linha central [11-20], M-linha central [10-10] |
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Faixa de Transmissão: | 0,17 a 5,5 mícrons | índice de refração: | 1,75449 (o) 1,74663 (e) em 1,06 mícrons |
TTV: | <10um | arco: | <15um |
Urdidura: | <15um | Constante dielétrica: | 11,5 (C-linha central paralela) 9,4 (C-linha central perpendicular) em 1MHz |
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Descrição de produto
O plano de Sapphire Crystal C de 2 polegadas lustrou Sapphire Wafers Sapphire Substrates
Especificação:
Único cristal Al2O3 99,999%
Orientação: R-linha central 0.5°
Diâmetro: 50.8±0.1mm
Espessura: 430±15um ou 330±15um
Plano preliminar: 16±1mm
Do plano da orientação: Fora C-plano da linha central 45°±0.1° de R a de C (0001)
Aspereza de superfície de Frontside: Ra<0.2nm
Aspereza de superfície da parte traseira: 0.8~1.2um (ou lado dobro lustrado, lado Ra<0.2nm)
TTV: CURVA de <10um: - URDIDURA 10~0um: <10um
Laser Mark Series No. por necessidades
Pacote: os recipientes Vácuo-selados com nitrogênio aterram em um ambiente da classe 100
Limpeza: Contaminação visível livre
1. A safira tem um transmitância ótico alto, assim que é amplamente utilizada como o material dielétrico do tubo microeletrónico, o elemento ultrassônico da condução, a cavidade do laser do medidor de ondas, e outros elementos óticos, como materiais da janela para os dispositivos, os veículos de espaço, os lasers da alta intensidade e as comunicações óticas militares infravermelhos.
2. A safira tem a rigidez alta, temperatura de trabalho de grande resistência, alta, resistência de abrasão, características de resistência da corrosão, assim carcaça da safira é usada frequentemente em ambientes ásperos, tais como o calibre de água da caldeira (resistência de alta temperatura), o varredor de código de barras da mercadoria, o rolamento, e a outra fabricação da precisão (resistência de desgaste), o carvão, o gás, sensores bons da detecção e janelas do detector (anticorrosivos).
3. A safira tem as características da isolação elétrica, da transparência, da boa condutibilidade térmica, e da rigidez alta, assim que pode ser usada como o material da carcaça dos circuitos integrados, tais como o diodo emissor de luz e circuitos microeletrónicos, circuito integrado da ultra-alto-velocidade.
PROPRIEDADES ÓTICAS de SAPPHIRE Al 2O3 | |
Escala de transmissão |
0,17 a 5,5 mícrons |
R.I. |
1,75449 (o) 1,74663 (e) em 1,06 mícrons |
Perda de reflexão |
em 1,06 mícrons (2 superfícies) para o-Ray - 11,7%; para e-Ray - 14,2% |
Posicione da absorção |
0,3 x 10-3 cm-1 em 2,4 mícrons |
dN/dT |
13,7 x 10-6 em 5,4 mícrons |
dn/dm = 0 |
1,5 mícrons |
PROPRIEDADES FÍSICAS de SAPPHIRE Al 2O3 | |
Densidade |
3,97 g/cm3 |
Ponto de derretimento |
2040 graus de C |
Condutibilidade térmica |
27,21 com (m x K) em 300 K |
Expansão térmica |
5,6 x 10 -6 /K (C-linha central paralela) & 5,0 (C-linha central perpendicular) x 10 -6 /K |
Dureza |
Knoop 2000 kg/mm 2 com o indenter 2000g |
Capacidade de calor específico |
419 j (quilograma x K) |
Constante dielétrica |
11,5 (C-linha central paralela) 9,4 (C-linha central perpendicular) em 1MHz |
Módulo Young (e) |
335 GPa |
Módulo da tesoura (g) |
148,1 GPa |
Módulo de maioria (K) |
240 GPa |
Coeficientes elásticos |
C11=496C12=164C13=115 |
Limite elástico aparente |
MPa 275 (40.000 libras por polegada quadrada) |
Relação de Poisson |
0,25 |
Verificação de aceitação